TS-X 輪廓測(cè)試儀，X軸承載工件，Z軸進(jìn)行輪廓掃描，數(shù)據(jù)采集和控制都基于先進(jìn)的數(shù)字技術(shù)。機(jī)械基礎(chǔ)是很高質(zhì)量的花崗巖使用的基本元素不需要我們的系統(tǒng)的后續(xù)和復(fù)雜的錯(cuò)誤補(bǔ)償。穩(wěn)定性好，使用壽命長(zhǎng)。

德國(guó)T&S TS-X 輪廓測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

TS輪廓測(cè)量?jī)x

GS / GM-X輪廓測(cè)量?jī)x

TS-X輪廓測(cè)量?jī)x

CV120輪廓測(cè)量?jī)x

CV300輪廓測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品線：

對(duì)中夾具 UZ系列

外圓對(duì)中夾具 AZ系列

對(duì)中水平放置臺(tái) KZT系列

對(duì)中夾具 ZS系列

綜合支架 WSE系列

角度調(diào)整卡 WSF系列

棱柱支撐 WP/WPS系列

德國(guó)T&S TS-X輪廓測(cè)試儀：

.X軸和z軸無(wú)摩擦的空氣軸承

.測(cè)量范圍(280 x 350 m)

.混合陶瓷測(cè)點(diǎn)

.X方向的靜態(tài)探測(cè)和測(cè)量數(shù)據(jù)記錄

.粗糙度檢測(cè)模塊是標(biāo)準(zhǔn)供貨的一部分

.承載能力25 kg(可選*大50kg

.Y軸調(diào)整臺(tái)可手動(dòng)和馬達(dá)自動(dòng)調(diào)節(jié)

.非接觸式增強(qiáng)型線性光柵尺

.測(cè)量系統(tǒng)分辨率1納米

·性價(jià)比高

.誤差*限:±(0.85 +L / 100) um[L以毫米為單位的測(cè)量路徑](不改變掃描方向)

.在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)都可以進(jìn)行輪廓和粗糙度測(cè)量

.故障限制: ± (0.9 + L/100) μm [L = 測(cè)量路徑 (毫米) (共質(zhì) TS)

.故障限制: ± (0.85 + L/100) μm [L = 測(cè)量路徑 (毫米) (Contuatic TS-X)

.軟件要求: ConturoMatic: W10/ 64Bit可選W7 / 64Bit

德國(guó)T&S TS-X粗糙度測(cè)量:

.表面粗糙度的測(cè)量

(參考表面測(cè)量的機(jī)械原理)

.測(cè)量粗糙度范圍:280 x350毫米

·有效分辨率:1 nm

·測(cè)量速度:0.1-0.5毫米/秒

.測(cè)量力:7.5 mN(可變調(diào)節(jié))

.測(cè)量點(diǎn)距離:約0.5微米

·適合粗糙度:Rz> 0.5um, Ra> 0.05um

·精度:5%