ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀產品簡介：

ATP5105高靈敏度、紫外增強微型光纖光譜儀(制冷型背照式CCD)，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，CCD可工作在設定的恒溫環境(*低可達-15oC)，從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了好的信噪比(比同類競爭對手提高了約2倍)，而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結果不隨環境溫度變化。

同時，為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界*佳水平。

ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。

ATP5105只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀產品特點：

紫外增強高性能背照式CCD

專門針對紫外優化的光路和結構;

探測器：背照式CCD(制冷至-15 oC)

探測器像素：3072

超低噪聲CCD信號處理電路

光譜范圍: 165-1100 nm

光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

光路結構：交叉C-T

積分時間：2ms-130s

供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A

18 bit, 570KHz A/DConverter

光輸入接口：SMA905或自由空間

數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

20針雙排可編程外擴接口

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀典型應用：

拉曼光譜儀

微量、快速分光光度計;

光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

透過率、吸光度檢測;

反射率檢測;

紫外、可見和短波近紅外

波長檢測

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀技術參數：