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日本KETT LW-990膜厚計測試臺人工測量誤差減小，對測量管狀物很有效。

日本KETT LW-990膜厚計測試臺產(chǎn)品簡介：

LW-990是通過將膜厚計探針或厚度計的升降部的整體式膜厚計安裝于LW-990中，由于膜厚度測量儀的測里開始與測童對象接觸--恒定的力和角度，人工測量誤差減小，并且可以以高的重復(fù)精度測量來執(zhí)行。如要測量的管狀物，這是特別有效的。探針的膜厚計型，和支持雙式膜厚計的LZ-990相對應(yīng)。

我們會努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準。

日本KETT LW-990膜厚計測試臺技術(shù)參數(shù)：

尺寸重量：150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

對應(yīng)傳感器：

探頭類型：LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

機身整體式：LZ-990

日本KETT LW-990膜厚計測試臺附件：

螺絲，電纜夾，探頭支架(黑色和白色)，探針，博爾特，軸支架，內(nèi)六角扳手，使用說明書

LZ-990使用例子

探針型的使用例子